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一种学业成长曲线测试方法和系统

摘要

本发明公开了一种学业成长曲线测试方法和系统,包括确定学业成长曲线测试周期;获取各个学生在测试周期内的评分因素的相关信息,评分因素的相关信息包括学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分;根据评分因素的权重系数,计算出学生在该测试周期内的得分,根据各个测试周期的得分拟合出学业成长曲线。本发明综合学生的各个方面的因素,对学生进行全方面的成长测试。

著录项

  • 公开/公告号CN110349063A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州市教育研究院;

    申请/专利号CN201910640709.0

  • 发明设计人 方晓波;

    申请日2019-07-16

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 510000 广东省广州市越秀区中山四路172号

  • 入库时间 2024-02-19 14:58:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06Q50/20 申请日:20190716

    实质审查的生效

  • 2019-10-18

    公开

    公开

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