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与散射测量术测量中的光栅非对称相关的不精确性的减轻

摘要

本发明提供散射测量术叠加目标以及目标设计及测量方法,其减轻基于衍射的叠加测量中的光栅非对称的效应。目标包括具有取代解析粗节距光栅的亚解析结构的额外单元,且/或包括具有粗节距周期性的交替亚解析结构,以隔离并移除由于光栅非对称所导致的不精确性。测量方法利用正交偏光照明,以相对于设计的目标结构,隔离不同测量方向上的所述光栅非对称效应。

著录项

  • 公开/公告号CN110312966A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科磊股份有限公司;

    申请/专利号CN201780086130.3

  • 申请日2017-12-15

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人刘丽楠

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2024-02-19 14:30:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/20 申请日:20171215

    实质审查的生效

  • 2019-10-08

    公开

    公开

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