用于存储器件的模块控制器和包括模块控制器的存储模块

摘要

本申请提供用于存储器件的模块控制器和包括模块控制器的存储模块。一种测试电路包括内建自测(BIST)电路和内建修复分析(BIRA)电路。所述内建自测(BIST)电路对多个存储器封装件执行测试操作，以生成故障信息。所述内建修复分析(BIRA)电路从BIST电路接收故障信息，以将所述多个存储器封装件中的至少一个选择作为修复目标存储器封装件。通过考虑错误校正码(ECC)电路的错误校正能力以及被包括在所述多个存储器封装件中每一个中的冗余区的可用性来选择修复目标存储器封装件。