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公开/公告号CN110344017A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-10-18
原文格式PDF
申请/专利权人 程实平;
申请/专利号CN201910235284.5
发明设计人 程实平;
申请日2019-03-26
分类号C23C14/54(20060101);C23C14/04(20060101);
代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;
代理人裘晖
地址 美国加利福尼亚州圣何塞
入库时间 2024-02-19 14:12:23
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-12-06
实质审查的生效 IPC(主分类):C23C14/54 申请日:20190326
实质审查的生效
2019-10-18
公开
机译: 用光学厚度监测系统管理涂层均匀性的方法
机译: 在基材上沉积多层涂层时监测层光学厚度的方法
机译: 改善在基材中润湿的涂层的均匀性的方法,将涂层施加到基材上的方法,用于提高基材中涂层的均匀性的育种站和设备
机译:在大气压等离子涂层中掺入荧光染料,以在线监测涂层的均匀性
机译:在聚合物涂层的颗粒中模拟薄膜涂层的不均匀性:一种随机方法。
机译:项目监测与评估:健康研究系统管理的一种增强方法
机译:间接光学厚度监测,用于精密光学涂层的固定试验滑动
机译:基于沉淀和蒸发标准化指标的基于标准化指标的农业涂层监测=基于标准化的降水蒸发蒸发蒸发蒸发探测沃霍迪纳地区的农业干旱监测方法
机译:通过OCT:厚度可变性胶片均匀性和粗糙度的关键涂层质量属性在线监测的可行性
机译:过程中的分析技术(PAT):光谱法作为涂层均匀性和拉米夫定剂量和拟掺杂剂的含量均匀性和Zidovudine的替代方法
机译:气溶胶光学厚度卫星观测与表面监测细颗粒浓度的比较