一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法

摘要

本发明公开了一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法，其中系统包括图像采集模块、图像处理模块、漫反射光源和结构光光栅，所述漫反射光源的光线经过结构光光栅后照射到待测物体上，并在待测物体形成明暗相间的光线形状，所述图像采集模块和图像处理模块连接；所述图像采集模块用于采集待测物体的图像信息，并将采集到的图像信息发送至图像处理模块；所述图像处理模块用于根据图像信息获取光线形状的形状参数，并根据形状参数对待测物体进行缺陷分析。本发明在待测物上照射呈现明暗相间的光线形状后，根据光线形状的形状参数对待测物体进行缺陷分析，能够检测出待测物上的大缺陷和小缺陷，可广泛应用于自动光学检测领域。