PCIE SSD产品的一站式集成测试方法及其装置

摘要

本发明涉及PCIE SSD产品的一站式集成测试方法及其装置；其中，方法，包括：S1，扫描BIB SN，加载并扫描SSD SN；S2，将BIB SN与SSD SN进行关联，S3，将SSD SN Map保存；S4，将SSD SN信息加载到终端计算机；S5，回传Map日志和测试log到服务器；S6，服务器对测试log结果进行解析；S7，再次扫描BIB SN；S8，通过SN检测SSD产品；S9，通过分拣程序将通过的SSD产品分发到通过托盘中。本发明简化了测试工序及其对应装备，减少了操作上的冗余，增加了单批次测试数量，提高了测试效率，减少了测试设备的闲置时间，提高了利用率。