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超导带材交流磁化损耗的免标定测试装置及测试方法

摘要

本发明提供了一种超导带材交流磁化损耗的免标定测试装置及测试方法,包括:测量系统以及补偿系统;所述测量系统包括:由磁体线圈和测量线圈构成的第一线圈绕组;所述补偿系统包括:由补偿磁体线圈和补偿线圈构成的第二线圈绕组;所述磁体线圈和所述补偿磁体线圈串联构成第一电路,所述测量线圈和所述补偿线圈反向串联构成第二电路。本发明不需要使用传统的拾波线圈,而是在两个串联的磁体线圈构成的测试回路上平行反向串联两个相同的测试线圈和补偿线圈,实现磁平衡,即装置内无样品时参考信号为零,从而通过对比超导带材样品放入测量线圈前后的信号差异测量超导带材的交流磁化损耗。

著录项

  • 公开/公告号CN110244132A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN201910492475.X

  • 申请日2019-06-06

  • 分类号

  • 代理机构上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人庄文莉

  • 地址 200240 上海市闵行区东川路800号

  • 入库时间 2024-02-19 13:40:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/26 申请日:20190606

    实质审查的生效

  • 2019-09-17

    公开

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