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一种大规格陶瓷砖平整度的立式检测装置及检测方法

摘要

本发明公开了一种大规格陶瓷砖平整度的立式检测装置,包括支撑台、立式底板、标准板和检测尺,所述立式底板竖直安装于支撑台的水平台面上,立式底板的一侧设有垫块,垫块固定于支撑台上,陶瓷砖竖直且居中放置于垫块上,陶瓷砖的四角通过定位座与立式底板相连,陶瓷砖与立式底板之间无侧向力作用;所述检测尺的两端分别与两个定位座相连,且检测尺的触头与陶瓷砖的外表面接触。本发明还提供了一种大规格陶瓷砖平整度的检测方法。本发明的有益效果为:立式检测装置可使陶瓷砖在此不受重力影响的状况下测量平整度;陶瓷砖竖直情况下的弹性变形忽略不计,自身重量对平整度的测量没有影响,测量所得的平整度数据和目测的实际砖型相一致,检测结果更为准确。

著录项

  • 公开/公告号CN110243267A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉理工大学;

    申请/专利号CN201910358608.4

  • 发明设计人 陈静远;蒲武川;张镖;李建峰;

    申请日2019-04-30

  • 分类号G01B5/28(20060101);

  • 代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;

  • 代理人钟锋;周舒蒙

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号

  • 入库时间 2024-02-19 13:31:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B5/28 申请日:20190430

    实质审查的生效

  • 2019-09-17

    公开

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