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一种探测等离子体性质的准光光路装置

摘要

本发明公开了一种探测等离子体性质的准光光路装置,包括:微波信号源、准光照射光路、准光反射光路、待测等离子体;准光照射光路包括扩束镜、分光镜、变焦透镜组、聚焦透镜组;准光反射光路与准光照射光路共用聚焦透镜组、变焦透镜组、分光镜,还包括反射镜和E面成像透镜;本发明主能较好的实现对等离子体性质的探测,变焦透镜组的设计,实现了简易、方便的变焦,能够连续的调节准光光学系统的分辨率;在调节变焦透镜组改变准光光学系统的分辨率的时候,在到达等离子体面的波前曲率改变很小的情况下,就能实现分辨率调节的要求,保证了此波前曲率与等离子体面的高度匹配,减少了测量的误差,整个准光光学系统的性能更好。

著录项

  • 公开/公告号CN110231623A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201910324601.0

  • 申请日2019-04-22

  • 分类号G01S13/89(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人熊曦

  • 地址 610000 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2024-02-19 13:08:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S13/89 申请日:20190422

    实质审查的生效

  • 2019-09-13

    公开

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