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一种基于序贯测试的模拟电路故障测试方法

摘要

本发明公开了一种基于序贯测试的模拟电路故障测试方法,通过条件熵评估测点的有效性,选择故障识别能力强的测点的特征值作为极限学习机输入层信息,产生表达故障状态识别结果的证据矢量;再基于D‑S理论生成信任函数,根据相似性传播将故障状态集合分离成若干故障子集,并进一步生成故障子集的诊断模型,直至故障状态全部分离或者分离到最优状态,具有故障识别精度高、故障识别效率高等特点。

著录项

  • 公开/公告号CN110109005A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201910439946.0

  • 申请日2019-05-24

  • 分类号

  • 代理机构成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温利平

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2024-02-19 12:22:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/3163 申请日:20190524

    实质审查的生效

  • 2019-08-09

    公开

    公开

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