一种面向航空航天薄壳结构的形位偏差特征库建立方法

摘要

本发明属于航空航天结构主承力构件设计技术领域，涉及一种面向航空航天薄壳结构的形位偏差特征库建立方法。包括以下步骤：1)给出适合现场工人测量的壳体质量检测卡，采点测量并填写壳体质量检测卡，获取壳体关键结构参数和形位偏差特征数据；2)对第一步得到的形位偏差数据，进行形位偏差的特征梳理和数学描述，进行缺陷成分分析；3)使用第一步和第二步对于多个典型航空航天薄壁结构的形位偏差数据进行收集和分析，建立航空航天薄壳结构形位偏差特征库。本发明专利有助于建立拥有过我国自主知识产权的航空航天薄壳结构形位偏差特征库，能够有效服务于我国航空航天装备的研制，缩短设计周期，为主要承力薄壳结构提供指导和设计规范。