集成电路引线框架缺陷检测装置

摘要

本发明提供一种集成电路引线框架缺陷检测装置，其包括：两个视觉检测工位，其中任一视觉检测工位包括：上料机构、推料机构、下料机构、检测机构。本发明的集成电路引线框架缺陷检测装置能够实现线框的自动上料、检测、下料以及分拣，其有利于线框的快速、精确检测，充分满足了现代化工业生产的实际需求，有利于保障后续与集成电路芯片的良好配合。