光学传感器设备、用于调节光学传感器设备的光谱分辨率的方法和光谱测量方法

摘要

本发明涉及一种光学传感器设备，所述光学传感器设备具有线性可变滤波器(10)和探测装置(18)，所述线性可变滤波器具有预给定的轴线(12)，所述线性可变滤波器(10)的透射波长沿着所述轴线在由最小透射波长和最大透射波长限界的值范围以内线性地变化；所述探测装置具有探测面(20)，在所述探测面上如此构造有传感器像素(22)的阵列，使得由所述传感器像素(22)中的每一个能够输出或量取关于射到相应的传感器像素(24)上的光强度的传感器信号(24)，其中，所述探测装置(18)相对于所述线性可变滤波器(10)如此布置，使得透射穿过所述线性可变滤波器(10)的光束射到所述探测面(20)上。本发明同样涉及一种用于调节光学传感器设备的光谱分辨率的方法。此外，本发明涉及一种光谱测量方法。