基于March算法的RAM检测方法

摘要

本发明公开了一种基于March算法的RAM检测方法，包括：MCU上电，完成系统初始化和外部设备参数配置；系统进入并判定ROM检测、RAM检测是否通过；如果否，则对MCU进行掉电；如果是，则配置Bq76930芯片信息和保护参数，并配置外部设备参数信息；读取两个Bq76930芯片信息，并判断是否超出设置的误差值；如果是，则关闭MOS管或熔断FUSE；如果否，则清零看门狗计数器，并进行其他检测；如果检测不正常，则关闭MOS管或熔断FUSE；如果检测正常，则打开MCU输出标志位，完成该检测。本发明采用March算法进行RAM检测，具有较高的故障覆盖率，较小的时间复杂度，硬件开销少，降低数据存储的故障率，并且能检查出连续地址错误或干扰错误，提高测试效率，保证数据的准确性、一致性、完整性。