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一种投影物镜数值孔径测量装置及测量方法

摘要

一种投影物镜数值孔径测量装置,包括:物面基底;物面基底入射光一侧具有散射元件,将入射光均匀散射在投影物镜;物面基底另一侧设计有针孔标记,针孔标记将入射光衍射经投影物镜成像在像面;投影物镜像面侧安装一移动台,该移动台可进行xy向高精度步进运动;以及移动台上安装探测器。测量方法包括如下步骤:根据投影物镜数值孔径设定值选择散射元件散射角;将掩模版上针孔标记移动到物面视场;将探测器移动到像面视场;采集光强分布图形;计算投影物镜数值孔径。使用本发明的一种原位测量投影物镜数值孔径的方法,实现了物镜数值孔径的原位与在线测量,同时测量方法简单、方便。

著录项

  • 公开/公告号CN102116706B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-08-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海微电子装备有限公司;

    申请/专利号CN201010022408.0

  • 发明设计人 马明英;王帆;

    申请日2010-01-04

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构11278 北京连和连知识产权代理有限公司;

  • 代理人王光辉

  • 地址 201203 上海市张江高科技园区张东路1525号

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-27

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01M 11/02 变更前: 变更后: 申请日:20100104

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2012-08-29

    授权

    授权

  • 2012-08-29

    授权

    授权

  • 2011-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20100104

    实质审查的生效

  • 2011-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20100104

    实质审查的生效

  • 2011-07-06

    公开

    公开

  • 2011-07-06

    公开

    公开

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