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一种导电结构缺陷稀疏电涡流快速成像检测方法及系统

摘要

本发明公开了一种导电结构缺陷稀疏电涡流快速成像检测方法及系统,该成像检测方法包括初始化处理步骤、获取稀疏缺陷信号步骤和重建信号并成像识别步骤。本发明利用导电结构中缺陷空间分布的稀疏特性,结合压缩感知原理,以远小于常规奈奎斯特采样定理所需信号采样数量的采样次数来进行稀疏采样,然后利用优化算法从少量稀疏采样信号中准确重构出导电结构的缺陷成像信息同时无需额外增加现有缺陷信号采集设备的硬件设计,提高了导电结构缺陷电涡流快速成像检测的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN109884180A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 昆明理工大学;

    申请/专利号CN201910115396.7

  • 申请日2019-02-14

  • 分类号

  • 代理机构北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李宏伟

  • 地址 650000 云南省昆明市呈贡区景明南路727号

  • 入库时间 2024-02-19 11:00:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/90 申请日:20190214

    实质审查的生效

  • 2019-06-14

    公开

    公开

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