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一种使用高精度导轨实现光学组件中心偏差测试的方法

摘要

本发明公开了一种使用高精度导轨实现光学组件中心偏差测试的方法,采用高精度自准直仪或采用超高精度全自动内调焦自准直仪做测量头,测量时采用反射法找取单透镜或光学镜组的每个透镜表面的反射像,根据各个表面像的位置得出偏心,从而进行光学透镜组的装配和调试。本发明解决了现有仪器由于必须旋转才能进行偏心测量的测量限制和不足,本发明的特点是采用高精度气浮导轨,并配备高精度自准直仪,将测量精度提高了多个等级;测试过程中不需要用旋转装置对被测组件旋转;界面友好、功能齐全的测试软件,使测量直观化,并能直接得出测试值。

著录项

  • 公开/公告号CN109883361A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安昂科光电有限公司;

    申请/专利号CN201910134423.5

  • 发明设计人 黄育争;刘燚;石栋;黄飞标;霍敏;

    申请日2019-02-23

  • 分类号G01B11/27(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 710000 陕西省西安市高新区锦业路69号创新商务公寓1号楼10909号

  • 入库时间 2024-02-19 10:55:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/27 申请日:20190223

    实质审查的生效

  • 2019-06-14

    公开

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