公开/公告号CN109660416A
专利类型发明专利
公开/公告日2019-04-19
原文格式PDF
申请/专利权人 财团法人工业技术研究院;
申请/专利号CN201711143787.7
申请日2017-11-17
分类号H04L12/26(20060101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人吕雁葭
地址 中国台湾新竹县竹东镇中兴路4段195号
入库时间 2024-02-19 10:02:02
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-05-14
实质审查的生效 IPC(主分类):H04L12/26 申请日:20171117
实质审查的生效
2019-04-19
公开
公开
机译: 其中的光学位移计和表面形状测量装置,其中的位移测量方法和表面测量方法以及位移测量方法和存储介质可以通过计算机存储程序读取以允许计算机执行计算,以使该方法能够执行该方法。
机译: 将数据记录在记录介质上的方法,再现记录在具有驱动数据输入区域,数据区域的记录介质上的数据的方法以及从行中排开的数据驱动区域,用于再现和 /或相对于记录介质写入数据。用于记录和/或再现记录在记录介质中的数据的设备,其中驱动数据的输入区域,数据区域和驱动数据的驱动区域按顺序排列用于记录设备和/或复制的一行光学记录介质。该记录介质可以通过计算机进行读取,并由处理指令编码,以实现通过以下方式在记录介质上记录数据的方法:记录介质可以为我获取它,然后由处理指令编码的计算机读取该记录介质,以实现一种再现记录在具有保险的记录介质中的数据的方法以及驱动
机译: 残余应力数据测量方法和使用残余应力测量设备的残余应力测量方法,以及记录残余应力测量程序的计算机可读记录介质