用于具有分割字线的多次可编程存储器（MTPM）的裕度测试

摘要

本发明涉及用于具有分割字线的多次可编程存储器(MTPM)的裕度测试。本公开涉及一种包括双单元存储器的结构，该双单元存储器包括第一器件和第二器件，并且被配置为存储对应于由第一字线控制的第一器件与由第二字线控制的第二器件之间的阈值电压差的数据。