通过启用动态JTAG测试模式进入及所有JTAG引脚的共享来增加数据传输处理量

摘要

在所描述实例中，一种集成电路(100)包含功能性电路系统(114)及测试电路系统(112)。所述测试电路系统(112)具有可在多个不同状态中操作的状态机。所述集成电路(100)还具有引脚(P2)以用于接收信号TMS。所述状态机可操作以响应于所述信号TMS的电平的变化而在状态之间转变。电路系统在第一时间段将处于第一电平的所述引脚(P2)的所述信号TMS耦合到所述状态机，以使得所述状态机进入预定状态，并且电路系统(124)在第二时间段使到所述状态机的所述信号TMS维持在所述第一电平，以用于使所述状态机维持在所述预定状态。并且，在所述第二时间段期间，电路系统将所述引脚(P2)处接收的数据耦合到除所述状态机外的目的地电路(122)。所述目的地电路(122)可操作以使用来自所述引脚(P2)的数据执行连续扫描测试，而无需对所述功能性电路系统(114)进行上电复位。