首页> 中国专利> 具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法

具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法

摘要

本发明公开了一种具有折射率轴向非均匀性的光学材料光谱性能计算方法,用于计算平行平板光学材料的光谱透射特性和反射特性以及吸收特性。由于折射率非均匀性的连续性,因此该方法是将光学材料在轴向垂直方向进行切片,多层切片的光波传输线性叠加关系,因此通过该方法可以计算出材料折射率非均匀性下的光谱特性。该方法对于光学系统设计和光学薄膜元件的设计具有普适性。

著录项

  • 公开/公告号CN109580552A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津津航技术物理研究所;

    申请/专利号CN201811525585.3

  • 发明设计人 刘华松;刘丹丹;姜玉刚;季一勤;

    申请日2018-12-13

  • 分类号G01N21/55(20140101);G01N21/59(20060101);

  • 代理机构11011 中国兵器工业集团公司专利中心;

  • 代理人刘二格

  • 地址 300308 天津市东丽区空港经济区中环西路58号

  • 入库时间 2024-02-19 08:55:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/55 申请日:20181213

    实质审查的生效

  • 2019-04-05

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号