首页> 中国专利> 基于差影法与局部方差测量算子的复杂瓷砖表面缺陷检测方法

基于差影法与局部方差测量算子的复杂瓷砖表面缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种基于差影法与局部方差测量算子的复杂瓷砖表面缺陷检测方法,该方法采用基于图像的差分运算与改进的局部方差测量算子代替缺陷轮廓提取的方式。首先,对每一块缺陷瓷砖采用聚类方法分割出图像中的显著性区域;然后,采用差影法获取图像的大致缺陷区域;最后,通过计算缺陷边缘像素点与其周围像素点的局部方差值,对缺陷瓷砖的轮廓进行提取,经过平滑和填充等形态学操作之后,最终获得精确完整的缺陷区域。本发明利用差影法与改进的局部方差测量算子对复杂瓷砖表面进行缺陷检测方法具有旋转不变性的效果,计算复杂度低,且检测效率高,具有较好的鲁棒性,特别是对低质量瓷砖缺陷的识别也具有较好的效果。

著录项

  • 公开/公告号CN109540925A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南昌航空大学;

    申请/专利号CN201910062683.6

  • 发明设计人 李军华;权小霞;汪宇玲;陈昊;

    申请日2019-01-23

  • 分类号G01N21/956(20060101);G06T7/11(20170101);

  • 代理机构36122 南昌市平凡知识产权代理事务所;

  • 代理人许艳

  • 地址 330063 江西省南昌市丰和南大道696号

  • 入库时间 2024-02-19 08:37:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/956 申请日:20190123

    实质审查的生效

  • 2019-03-29

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号