一种晶体振荡器二极管特性的测量装置

摘要

本发明提出的是一种晶体振荡器二极管特性的测量装置，其结构包括测试座、底座和控制开关，其中测试座设于底座上表面的中心，控制开关包括2组，分别并排安装于底座上表面测试座的左、右两侧。本发明的优点：操作简单，可方便地测量各种尺寸晶振，测量误差小，结果可靠。