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3d线状激光扫描测量设备的线状激光光斑纵向匀光方法

摘要

本发明提供了3d线状激光扫描测量设备的线状激光光斑纵向匀光方法,其使得激光扇面二次通过光学元件后使得激光线变得均匀,提高了激光扫描设备的测量精度。在激光扇面和被测物之间放置光学元件,光学组件与所述激光扇面同轴布置,激光全部通过光学元件,所述光学元件用于将单个激光扇面分解为两个独立的第二激光扇面后朝向被测物进行扫描,且两个独立的第二激光扇面的光斑部分重合,使得激光线变得均匀。

著录项

  • 公开/公告号CN109521573A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州天准科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201910002618.4

  • 发明设计人 袁春辉;

    申请日2019-01-02

  • 分类号G02B27/09(20060101);

  • 代理机构32293 苏州国诚专利代理有限公司;

  • 代理人杜丹盛

  • 地址 215163 江苏省苏州市高新区培源路5号

  • 入库时间 2024-02-19 07:58:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B27/09 申请日:20190102

    实质审查的生效

  • 2019-03-26

    公开

    公开

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