首页> 中国专利> 一种混合场景下的柔性印制电路缺陷检测系统及方法

一种混合场景下的柔性印制电路缺陷检测系统及方法

摘要

本发明公开了一种混合场景下的柔性印制电路缺陷检测系统及方法,包括双视觉检测单元、上位机、真空吸附平台及载物平台,所述真空吸附平台设置在载物平台上,所述双视觉检测单元设置在载物平台的上方;所述双视觉检测单元包括精密显微镜成像视觉系统及工业摄像机成像视觉系统;本发明将真空吸附平台安装在高精密载物平台上,配合双视觉检测单元,解决了光照不均匀对图像采集的影响,提高图像的成像质量。

著录项

  • 公开/公告号CN109187584A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810895170.9

  • 发明设计人 胡跃明;张睿;罗展豪;

    申请日2018-08-08

  • 分类号G01N21/956(20060101);G01B11/00(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人王东东

  • 地址 511458 广东省广州市南沙区环市大道南路25号华工大广州产研院

  • 入库时间 2024-02-19 07:45:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/956 申请日:20180808

    实质审查的生效

  • 2019-01-11

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号