首页> 中国专利> 一种基于无偏嵌入零样本学习的电芯缺陷分类方法

一种基于无偏嵌入零样本学习的电芯缺陷分类方法

摘要

一种基于无偏嵌入零样本学习的电芯缺陷分类方法,包括:1)从通过高清摄像头采集的电芯图片中,采用滑动窗口的方式获取合适大小的包含缺陷的图像块,将较为常见的缺陷类别分配为带标签的源数据,将少见的缺陷类别分配为无标签的目标数据;2)使用有标注的源类数据和未标注的目标类数据来端对端地训练准全监督学习网络模型QFSL;3)测试阶段,对于输入的图像块,通过视觉嵌入子网络得到它的视觉嵌入,接着利用视觉‑语义衔接子网络,完成从视觉嵌入到语义嵌入的映射,然后通过内积计算得到投影得到的视觉嵌入和语义嵌入的得分,最后送入Softmax分类器产生了所有类别的预测概率,将概率最高的那个类别作为分类结果。

著录项

  • 公开/公告号CN109472284A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201811088628.6

  • 发明设计人 宋明黎;雷杰;宋杰;

    申请日2018-09-18

  • 分类号

  • 代理机构杭州天正专利事务所有限公司;

  • 代理人王兵

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

  • 入库时间 2024-02-19 07:41:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/62 申请日:20180918

    实质审查的生效

  • 2019-03-15

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号