首页> 中国专利> 基于全光纤共光路反射式干涉仪的无孔式近场光学显微成像方法

基于全光纤共光路反射式干涉仪的无孔式近场光学显微成像方法

摘要

本发明提供一种无孔式近场光学显微成像方法,包括如下步骤:辐照步骤:将激光耦合进波导样品;扫描步骤:用探针扫描所述波导样品;干涉步骤:将参考光和信号光引入同一条光纤路径中发生干涉,其中,所述参考光为所述激光在波导样品端面处的反射光或在所述波导样品之前的布拉格光纤光栅处的反射光,所述信号光为所述激光在所述波导样品的探针扫描部位处的反射光;以及相干检测步骤:对所述干涉步骤产生的干涉光信号进行相干检测。

著录项

  • 公开/公告号CN109239404A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN201810964380.9

  • 发明设计人 丁伟;孙一之;

    申请日2018-08-23

  • 分类号

  • 代理机构北京泛华伟业知识产权代理有限公司;

  • 代理人王勇

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2024-02-19 07:41:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-26

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01Q60/18 申请公布日:20190118 申请日:20180823

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2019-02-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q60/18 申请日:20180823

    实质审查的生效

  • 2019-01-18

    公开

    公开

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