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一种坏点检测和平场校准的联合处理方法

摘要

本申请公开一种坏点检测和平场校准的联合处理方法,包括执行图像采集过程,得到一张暗场图和一张亮场图;利用得到的暗场图和亮场图计算平场校准系数;基于算得的平场校准系数进行坏点检测,剔除坏点,得到正常像素点集合;对所有正常像素点采用公式Output=(Input‑FPN)*PRNU进行平场校准,然后输出图像,其中,FPN为固定模式噪声值,PRNU为光电响应不一致性系数,Input和Output分别表示图像的输入数据和输出数据。本申请实施例提供的方法,通过在平场校准过程中实时增加对坏点的检测,有效地将两种传统方法的功能合并,在简化流程的同时保证了响应曲线的质量,提高了工作效率。

著录项

  • 公开/公告号CN109348216A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 凌云光技术集团有限责任公司;

    申请/专利号CN201811431057.1

  • 发明设计人 郭慧;姚毅;

    申请日2018-11-28

  • 分类号H04N17/00(20060101);G06T7/00(20170101);

  • 代理机构11363 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人逯长明;许伟群

  • 地址 100094 北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室

  • 入库时间 2024-02-19 07:36:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N17/00 申请日:20181128

    实质审查的生效

  • 2019-02-15

    公开

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