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针对HCNR200线性光耦隔离电路的带宽的脉冲测试法

摘要

本发明提供一种针对HCNR200线性光耦隔离电路的带宽的脉冲测试法,其步骤如下:一:选择HCNR200线性光耦隔离电路并进行配置;二:搭建测试隔离电路带宽所用的测试系统;三:对HCNR200线性光耦隔离电路开展带宽测试;四:对HCNR200线性光耦隔离电路带宽测试数据进行处理和分析;通过以上步骤,针对HCNR200线性光耦隔离电路的带宽进行测试,利用被测隔离电路对脉冲信号的响应上升沿时间与被测电路的带宽之间的关系,发挥脉冲信号频率特性的优势,达到测试HCNR200线性光耦隔离电路的带宽的目的。反映HCNR200线性光耦器件在实际应用中隔离传输高频信号的能力。

著录项

  • 公开/公告号CN109471013A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201811273474.8

  • 发明设计人 高成;寇震梦;黄姣英;王乐群;

    申请日2018-10-30

  • 分类号

  • 代理机构北京慧泉知识产权代理有限公司;

  • 代理人王顺荣

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2024-02-19 07:32:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20181030

    实质审查的生效

  • 2019-03-15

    公开

    公开

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