一种芯片产品测试规范的制定方法及系统

摘要

本发明公开了一种芯片产品测试规范的制定方法，包括：获取目标产品包含的各个待测试分产品；解析每一个待测试分产品包含的各个测试参数，确定与每一个测试参数对应的初始极值和偏移量极值；依据所述初始极值和所述偏移量极值，确定每一个测试参数的测试标准极值；将各个测试标准极值分配给对应的待测试分产品，完成所述目标产品测试规范的制定。上述的制定方法，集中确定各个待测试分产品的测试标准极值，将各个测试标准极值分配给对应的待测试分产品，完成所述目标产品测试规范的制定，一个芯片产品只对应一个测试规范，避免了需要为每一个分产品制定测试规范，一个芯片产品对应多个测试规范，导致数据处理工作量大的问题。