首页> 中国专利> 提高样品切片的扫描成像在Z轴方向上分辨率方法及系统

提高样品切片的扫描成像在Z轴方向上分辨率方法及系统

摘要

本发明公开了一种提高样品切片扫描图像在Z轴方向上的分辨率方法及系统,其方法包括:通过设置扫描电子显微镜的入射电子束电压,对样品切片进行不同入射能量的背散射电子成像,获得位于所述样品切片内的不同深度处的初始扫描图像;通过主成分分析方法对各所述初始扫描图像进行处理,获得与所述样品切片内的不同深度处相对应的优化扫描图像;分别对各所述优化扫描图像进行对比度调整和滤波处理,以提高所述样品切片的扫描图像质量、以及其在Z轴方向上分辨率。本发明针对样品切片在不改变电镜设备硬件条件的情况下,通过对样品切片内不同深度处的扫描成像并配合相应的图像处理方法,达到提高大尺度样品切片Z轴分辨率的目的。

著录项

  • 公开/公告号CN109300087A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院生物物理研究所;

    申请/专利号CN201811033711.3

  • 发明设计人 丁玮;季刚;李喜霞;张建国;

    申请日2018-09-05

  • 分类号

  • 代理机构北京中强智尚知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄耀威

  • 地址 100101 北京市朝阳区大屯路15号

  • 入库时间 2024-02-19 07:15:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T3/40 申请日:20180905

    实质审查的生效

  • 2019-02-01

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号