二维材料平均片径检测方法、装置及数量获取方法、装置

摘要

本发明公开了一种二维材料平均片径检测方法、装置及数量获取方法、装置。本发明通过获取二维材料分散液中单位体积内二维材料的数量，结合二维材料分散液中单位体积内二维材料的质量可得每个二维材料的平均质量，再根据二维材料最小重复结构单元所独立具有的摩尔质量可以得出构成每个二维材料的最小重复结构单元的数量，最后根据每个最小重复结构单元的面积以及二维材料的平均层数即可得到二维材料的平均面积，进而计算出二维材料的平均片径。该方法仅需要测量二维材料分散液中单位体积内二维材料的数量，其他参数为已知的或者通过简单的现有技术可测量得到，因此本发明的二维材料平均片径检测方法简单准确、成本低。