首页> 中国专利> 一种用于无创产前评估半侧颜面短小综合征的基因芯片、试剂盒及基因芯片的应用方法

一种用于无创产前评估半侧颜面短小综合征的基因芯片、试剂盒及基因芯片的应用方法

摘要

本发明涉及一种用于无创产前评估半侧颜面短小综合征的基因芯片、试剂盒及基因芯片的应用方法,基因芯片包括片基,该片基上设有探针组形成微阵列基因芯片;试剂盒包括该基因芯片/引物组和酶系等。基因芯片的应用方法为:首先,准备含有DNA的样本,然后PCR扩增,然后采用所述的基因芯片进行杂交。该微阵列芯片能够以待测孕妇外周血的cf‑fDNA为模板进行多重PCR扩增,得到PCR扩增产物后,与本发明的芯片进行杂交,根据杂交结果确定胎儿是否携带有先天性半侧颜面短小综合征相关基因;非常简单,大大降低误差率和时间成本,提高精确度;能用于产前先天性遗传病的诊断,在无创产前诊断领域具有很大的潜力。

著录项

  • 公开/公告号CN109182494A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 张娇;

    申请/专利号CN201811071167.1

  • 发明设计人 张娇;章庆国;赵驰;

    申请日2018-09-14

  • 分类号C12Q1/6883(20180101);C12Q1/6837(20180101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100000 北京市石景山区田村路西黄村西里雍景四季1-4-901

  • 入库时间 2024-02-19 07:07:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):C12Q1/6883 申请日:20180914

    实质审查的生效

  • 2019-01-11

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号