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一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法及装置

摘要

本发明涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定方法,包括太赫兹波透射测量获取第一标定板和第二标定板分别作为被测样品以及无被测样品时的太赫兹波透射电场强度,得到第一标定板和第二标定板的复折射率;在某一入射角度下,太赫兹波反射测量获取第一标定板和第二标定板分别反射的太赫兹波反射电场强度;根据第一标定板和第二标定板的复折射率及菲涅尔公式分别求得二者反射系数表达式,结合二者反射的太赫兹波反射电场强度之比,计算太赫兹波反射测量的入射角。本发明还涉及一种太赫兹波反射测量系统入射角确定装置。该方法及装置通过计算准确获得太赫兹波反射测量的入射角度,解决了现有技术中依赖角度仪读取无法精确确定入射角度的难题。

著录项

  • 公开/公告号CN109211843A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京环境特性研究所;

    申请/专利号CN201811219808.3

  • 申请日2018-10-19

  • 分类号G01N21/55(20140101);G01N21/3586(20140101);G01N21/3563(20140101);

  • 代理机构11609 北京格允知识产权代理有限公司;

  • 代理人周娇娇

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号

  • 入库时间 2024-02-19 07:03:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/55 申请日:20181019

    实质审查的生效

  • 2019-01-15

    公开

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