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一种近场热反射测量装置

摘要

本发明实施例提供了一种近场热反射测量装置,该近场热反射测量装置包括:激光发生器、光束校正系统、近场测量系统和计算机;激光发生器发射激光信号至光束校正系统;光束校正系统对激光信号的方位进行校正,并将校正后的激光信号传输至近场测量系统;近场测量系统根据校正后的激光信号得到表征待测样品的热物性信息的电信号,并将电信号传输至计算机;计算机根据电信号和预先存储的激光信号的光强得到待测样品的热物性信息。通过实施本发明,不仅能够减小环境震动的影响,还能减除由各个光学元器件本身不稳定性带来的对光束传输方位的影响,保证了近场热反射测量装置的可靠性和准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN109444212A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电工研究所;

    申请/专利号CN201811340304.7

  • 申请日2018-11-12

  • 分类号G01N25/20(20060101);G01N25/18(20060101);

  • 代理机构11250 北京三聚阳光知识产权代理有限公司;

  • 代理人李博洋

  • 地址 100015 北京市海淀区中关村北二条6号

  • 入库时间 2024-02-19 06:59:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N25/20 申请日:20181112

    实质审查的生效

  • 2019-03-08

    公开

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