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基于聚焦像点的微透镜阵列型光场相机几何参数标定方法

摘要

本发明公开了一种基于聚焦像点的微透镜阵列型光场相机几何参数标定方法,该方法包括以下步骤:S1,根据微透镜阵列型光场相机的聚焦成像光路图,得到物点与聚焦像点关于主透镜的映射关系;S2,根据微透镜阵列型光场相机的聚焦成像光路图,得到聚焦像点与探测器像点关于微透镜的映射关系;S3,根据检测得到的探测器像点,求解聚焦像点的坐标;S4,根据S3获得的聚焦像点的坐标,求解标定模型中的相机内部参数矩阵和外部参数矩;S5,通过S4获得的相机内部参数矩阵和外部参数矩阵,标定微透镜阵列型光场相机的几何参数。通过采用本发明提供的方法,进行微透镜阵列型光场相机的几何参数标定,可以为后续光场数据校准和实现计算成像提供可靠的参数。

著录项

  • 公开/公告号CN109325981A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京信息科技大学;

    申请/专利号CN201811070094.4

  • 申请日2018-09-13

  • 分类号G06T7/80(20170101);

  • 代理机构11346 北京汇智胜知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人石辉

  • 地址 100192 北京市海淀区清河小营东路12号

  • 入库时间 2024-02-19 06:53:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/80 申请日:20180913

    实质审查的生效

  • 2019-02-12

    公开

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