一种基于MEMS光纤微电流传感技术的绝缘子劣化及污秽检测方法

摘要

本发明公开了一种基于MEMS光纤微电流传感技术的绝缘子劣化及污秽检测方法，其采用MEMS光纤微电流传感器构建污秽劣化绝缘子检测系统，通过检测绝缘子串微电流特征判断绝缘子运行状态信息；具体判断方法为：当检测的绝缘子串中通过的微电流基本不发生变化，即绝缘子交流阻抗很大且基本不发生变化，则判断当前绝缘子良好没有产生污秽及劣化；当检测的绝缘子串中微电流增大，则判断当前绝缘子表面积累了污秽物或绝缘子串中存在劣化绝缘子。本发明实现了绝缘子串无接触式测量，大幅提高绝缘子运维检修的安全性和检测效率。