一种光纤陀螺环圈组件标度稳定性测试分析方法

摘要

本发明涉及一种光纤陀螺环圈组件标度稳定性测试分析方法。本设计方法将测试系统分成两个组成部分：受试部分和非受试部分，其中受试部分接受外部所施加的应力(含温度老化，紫外照射，湿度老化等)，非受试部分维持常温条件。采用本方法可较大限度将光纤陀螺除环圈组件外的影响素加以排除，借助该测试分析方法通过对比两种不同工艺环圈的标度性能，对环圈工艺改进以及故障诊断有实用意义。