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微透镜阵列检测系统及微透镜阵列的检测方法

摘要

本发明提供微透镜阵列检测系统及微透镜阵列的检测方法,所述微透镜阵列检测系统包括:光源装置、待测微透镜阵列、光阑及光通量测试装置,所述光源装置用于发射光线;待测微透镜阵列用于接收并透射所述光线;所述光阑包含一具有预设孔径的通光孔,所述通光孔用于透射待测微透镜阵列出射的光线;所述光通量测试装置用于分别测试所述光线通过所述光阑前的第一光通量及通过所述光阑后的第二光通量,所述第一光通量与所述第二光通量用于分析待测微透镜阵列的质量。所述微透镜阵列检测系统及采用所述微透镜阵列检测系统的微透镜阵列的检测方法操作简单高效,准确率高。

著录项

  • 公开/公告号CN109387353A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳光峰科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201710693965.7

  • 发明设计人 杜鹏;周萌;李屹;

    申请日2017-08-14

  • 分类号G01M11/00(20060101);

  • 代理机构44334 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司;

  • 代理人谢志为

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦20-22楼

  • 入库时间 2024-02-19 06:45:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/00 申请日:20170814

    实质审查的生效

  • 2019-02-26

    公开

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