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一种基于纳米孔的超弹性颗粒剪切模量检测装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于纳米孔的超弹性颗粒剪切模量检测装置及方法,该检测装置主要由硅基衬底的两个微腔及连接微腔的纳米孔和电流检测回路构成。检测时,颗粒在静电场的作用下穿过纳米孔。同时利用电流检测回路测量颗粒穿过纳米孔时的微弱电流变化,进而利用数据解析出颗粒的剪切模量。

著录项

  • 公开/公告号CN109459373A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 海南大学;

    申请/专利号CN201811322829.8

  • 申请日2018-11-08

  • 分类号G01N15/10(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 570228 海南省海口市美兰区人民大道58号海南大学

  • 入库时间 2024-02-19 06:45:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/10 申请日:20181108

    实质审查的生效

  • 2019-03-12

    公开

    公开

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