首页> 中国专利> 一种获取裂缝性低孔低渗储层测井饱和度的方法

一种获取裂缝性低孔低渗储层测井饱和度的方法

摘要

本发明公开了一种获取裂缝性低孔低渗储层测井饱和度的方法,其特征在于,包括以下步骤:在储层中选择岩电实验用的多个岩石样品,确定各岩石样品中孔隙的类型,并记录各孔隙类型下的地层电阻率和对应的胶结指数;根据测井信息记录储层中致密层的地层电阻率,确定致密层的胶结指数;根据测井信息记录储层中高角度缝和低角度缝的地层电阻率,确定高角度缝和低角度缝的胶结指数;根据测井信息记录储层中溶蚀溶孔的地层电阻率,并确定溶蚀溶孔的胶结指数;根据岩电实验和测井信息中裂缝性低孔低渗储层的胶结指数,确定储层的测井饱和度。本发明能够直观、快速的获取裂缝性低孔低渗储层测井饱和度,可操作性强,使用范围广。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):E21B49/00 申请日:20170802

    实质审查的生效

  • 2019-02-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号