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用于校准半导体存储器中的感测放大器的设备和方法

摘要

公开用于校准半导体存储器中的感测放大器的设备和方法。一种实例设备包含放大器电路和校准电路。所述放大器电路被配置成耦合到供电电压和参考电压,和当被激活时,所述放大器电路被配置成在输出端处提供与提供到输入端的输入信号互补的输出信号。当通过校准信号激活时,所述校准电路被配置成将校准电压提供到所述放大器电路的所述输出端,其中所述校准电压是提供到所述放大器电路的所述供电电压与所述参考电压之间的平衡电压。

著录项

  • 公开/公告号CN109308921A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美光科技公司;

    申请/专利号CN201810835981.X

  • 发明设计人 S·F·席佩斯;

    申请日2018-07-26

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人王龙

  • 地址 美国爱达荷州

  • 入库时间 2024-02-19 06:42:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C7/06 申请日:20180726

    实质审查的生效

  • 2019-02-05

    公开

    公开

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