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一种TR组件幅相特性快速微波测试系统

摘要

本发明提供一种TR组件幅相特性快速微波测试系统,采用变频器将TR组件的射频信号频率降低到中频,幅度检波和相位检波均在中频完成;包括:TR组件指令控制系统,矩阵开关系统,变频、中频检波以及采样电路,上位机和以太网通信控制系统,上位机控制系统工作以及数据检测和测试报表的生成,以太网通信用于自动化测试系统各个模块间指令和数据的传输。本发明通过矩阵开关系统将多个待测的TR组件的射频端口缩减至两个端口与测试电路连接,同时将射频信号变频到中频使测试更加快捷。

著录项

  • 公开/公告号CN109307859A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广东圣大电子有限公司;

    申请/专利号CN201811014091.9

  • 发明设计人 卜景鹏;林源;王鑫涛;马向华;

    申请日2018-08-31

  • 分类号

  • 代理机构北京中济纬天专利代理有限公司;

  • 代理人孔凡亮

  • 地址 528308 广东省佛山市顺德区伦教街道办事处霞石村委会新熹四路北2号

  • 入库时间 2024-02-19 06:40:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S7/40 申请日:20180831

    实质审查的生效

  • 2019-02-05

    公开

    公开

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