机译:会聚电子束衍射与几何相位分析在应变硅器件中应变测量中的比较
机译:透射电子显微镜中使用纳米束电子衍射的半导体器件中的高精度二维应变映射
机译:透射电子显微镜中使用纳米束电子衍射的半导体器件中的高精度二维应变映射
机译:通过局部衍射测量应变:纳米束电子衍射(NBED)与会聚束(CBED)和暗全息术的比较
机译:使用X射线衍射和会聚光束电子衍射测量应变硅的晶格应变和弛豫效应
机译:三束会聚电子衍射仪用于测量结晶相
机译:通过局部衍射的应变测量:与收敛梁(CBE)和暗全息术相比,纳米束电子衍射(NBED)