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机译:电力设备应用中4H-siC生长和加工中的缺陷控制
T. Kimotoa; G. Feng; T. Hiyoshi; K. Kawahara; M. Noborio; J. Suda;
机译:用于电力电子设备的4H-SiC晶片的表面分析和缺陷表征
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