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Quantifying backflash radiation to prevent zero-error attacks in quantum key distribution

机译:量化反辐射辐射以防止量子密钥分发中的零错误攻击

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摘要

Single-photon avalanche diodes (SPADs) are the most widespread commercial solution for single-photon counting in quantumudkey distribution applications. However, the secondary photon emission that arises from the avalanche of charge carriers thatudoccurs during the detection of a photon may be exploited by an eavesdropper to gain information without inducing errors in theudtransmission key. In this paper, we characterize such backflash light in gated InGaAs/InP SPADs and discuss its spectral andudtemporal characterization for different detector models and different operating parameters. We qualitatively bound the maximumudinformation leakage due to backflash light and propose solutions for preventing such leakage.
机译:单光子雪崩二极管(SPAD)是用于量子 udkey分布应用中单光子计数的最广泛的商业解决方案。但是,窃听者可以利用在检测光子过程中虚假产生的电荷载流子的大量雪崩所产生的次级光子发射来获取信息,而不会在udtransmission密钥中引起错误。在本文中,我们对门控的InGaAs / InP SPAD中的此类逆光进行了表征,并讨论了其在不同探测器模型和不同工作参数下的光谱和/或时域表征。我们定性地限制了由于反光导致的最大信息泄漏,并提出了防止此类泄漏的解决方案。

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