AUGER SPECTROSCOPY; CRYSTALLOGRAPHY; ELECTRON FLUX DENSITY; OXYGEN RECOMBINATION; POLYCRYSTALS; SILVER; ELECTRON DIFFRACTION; ELECTRON SPECTROSCOPY; ELECTRON TRAJECTORIES; INELASTIC SCATTERING; SURFACE REACTIONS;
机译:定量AES。 VIII:从数字俄歇数据库中的元素数据分析俄歇电子强度
机译:氩的L_3→M_2,M_3俄歇跃迁和氙的M_(4,5)→N_(4,5)N_(4,5)和氙的L型子壳的俄歇电子截面的相对角强度测量
机译:使用单晶粒深度剖析改善多晶薄膜系统俄歇成分深度剖析中的溅射深度分辨率
机译:在强度大于1016 W / cm2的XUV自由电子激光辐照固体的实验中,确定俄歇电子加热和俄歇反作用
机译:银(100)和钯银合金的俄歇光电子符合光谱研究。
机译:通过相关红外光谱纳米瘤和开尔文探针显微镜测量钙钛矿多晶膜中晶界晶界中的电子积累
机译:来自激光激发钠的俄歇电子的KLL光谱的绝对俄歇率,相对强度和角分布