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Manipulation and Charging of Silicon Nanocrystals by Atomic-Force Microsopy

机译：原子力显微镜对硅纳米晶的操纵和充电

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作者
Bell, L. D.; Santamore, D. H.; Boer, E. A.; Atwater, H. A.; Vahala, K. J.; Flagan, R. C.;
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作者单位

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年度 1997
页码 1-1
总页数 1
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
ATOMS; MICROSCOPY; NANOCRYSTALS; SILICON; Silicon Nanocrystals Microscopy;

机译：原子;显微镜;纳米晶体;硅;硅纳米晶体显微镜;

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