The Application of Scanning Electron Microscopy to Bulk Devices. Part 1 - Gunn Diodes

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• 作者

  Gopinath, A.; Shaw, D. A.; Sulway, D. V.; Thornton, P. R.;

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• 作者单位

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• 年度 1968
• 页码 p.1-61
• 总页数 61
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Diodes ; Electron microscopes ; Gunn effect ; Scanners ; Epitaxy ; Gallium arsenides ; High resolution;

  机译：二极管;电子显微镜; Gunn效应;扫描仪;外延;砷化镓;高分辨率;