Refractive Index ; Thin films ; Calculation Methods ; Data Covariances ; Light Transmission ; Optics ; Spectrophotometers;
机译:通过使用光谱投影梯度法从透射率测量中获取的吸收性基板上薄膜的光学特性
机译:从透射率的测量确定薄介电膜的折射率和厚度
机译:通过透射率测定确定薄介电膜的折射率和厚度
机译:利用多参数表面等离子体共振优化薄膜沉积:确定薄层和厚层厚度和折射率的新技术
机译:低折射率基材上石墨烯和石墨薄膜的光学测量
机译:确定拉伸强度的延展性基体上厚脆性涂层/膜中平面应力分布的有限元建模
机译:基于透射率的测量,基于透射率的测量确定石英底物上金纳米丝厚度的激光方法
机译:从透射率测量确定厚基板上的λ/ 4薄膜的折射率。